XTU镀层测厚仪，是一款专门用于金属、塑料电镀及表面处理企业里，检测涂镀层厚度的仪器，仪器使用第三代EFP算法，采用微聚焦技术，可以对微小产品镀点、异形及阶梯型产品、多镀层复杂镀层的镀层厚度的检测都有很好的表现。

XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。$n该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。$n被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

XTU-4C钕铁硼磁铁镀镍铜镍层厚度测试仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

这是一款入门级的X-Ray镀层测厚仪，专业用于电镀镀层厚度的检测，电镀及表面处理是生产制造中很重要的一个环节，也关乎着很多产品的质量，包括电子电器产品、航空航天、轨道交通、汽车制造等等，在电镀及表面处理行业里，镀层厚度是企业成本的关键，也是电镀类产品质量的指标之一，所以有一款能快速、方便的检测出电镀层厚度的仪器，是电镀企业*的帮手。

Xray测厚仪就是用X射线检测的原理来测量电镀镀层厚度的仪器，因为X射线检测是无损的、快速的，基本可以实时的在电镀及工业生产线上，做到对产品质量实时的管控。仪器操作简单方便，也经久耐用，是电镀及表面处理行业里*的好帮手。

XAD一六测厚仪是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

该牛津测厚仪测试类型为X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟”一样，它是从上到下方向测量的，这使得测试形状奇怪的样品也变得轻松便捷，为了优化您的任务的测量条件，配有可互换的准直器和过滤器作为标准配置。

日立XRF测厚仪是基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

FISCHERSCOPE®X射线 XDAL®是 XDL系列中的一款进口测厚仪，测试类型为X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟”一样，它是从上到下方向测量的，这使得测试形状奇怪的样品也变得轻松便捷，为了优化您的任务的测量条件，配有可互换的准直器和过滤器作为标准配置。

镀锡铜线锡层测厚仪X射线镀层测厚仪，不仅测量精确高，而且可以对铜线进行无损检测，既便捷又快速。是生产镀锡铜线的厂家或是电镀加工厂家及铜线使用企业很好的检测仪器。