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电镀镀层测厚仪厂家直供

  • 产品型号:Thick800A
  • 更新时间:2022-03-04

简要描述:Thick800A镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。本公司电镀镀层测厚仪厂家直供,欢迎广大新老客户前来选购

产品详情

电镀镀层测厚仪应用领域:

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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电镀镀层测厚仪技术指标:

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,zui薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

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电镀镀层测厚仪使用仪器时应当遵守的规定:

a 基体金属特性

对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。

b 基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。

c 边缘效应

不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。

d 曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

e 读数次数

通常由于仪器的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。

f 表面清洁度

测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质

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