产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

产品中心/ products

您的位置：首页 - 产品中心 - 测厚仪 - 金属膜厚仪 - Thick8000金属膜厚仪使用说明

金属膜厚仪使用说明

产品型号：Thick8000
更新时间：2022-03-04

简要描述：金属膜厚仪使用说明是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

在线咨询

产品详情

金属膜厚仪使用说明

性能优势：

　　1.精密的三维移动平台

　　2.的样品观测系统

　　3.先进的图像识别

　　4.轻松实现深槽样品的检测

　　5.四种微孔聚焦准直器，自动切换

　　6.双重保护措施，实现无缝防撞

　　7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度

　　优势：

　　全自动智能控制方式，一键式操作!

　　开机自动自检、复位；

　　开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；

　　关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；

　　直接点击全景或局部景图像选取测试点；

　　点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。

　　金属膜厚仪使用说明

技术指标：

　　分析元素范围：硫(S)～铀(U)

　　同时检测元素：zui多24个元素，多达5层镀层

　　检出限：可达2ppm，zui薄可测试0.005μm

　　分析含量：一般为2ppm到99.9%

　　镀层厚度：一般在50μm以内(每种材料有所不同)

　　重复性：可达0.1%

　　稳定性：可达0.1%

　　SDD探测器：分辨率低至135eV

　　先进的微孔准直技术：zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm

　　样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头

　　准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

　　仪器尺寸：690(W)x 575(D)x 660(H)mm

　　样品室尺寸：520(W)x 395(D)x150(H)mm

　　样品台尺寸：393(W)x 258 (D)mm

　　X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

　　X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um

　　操作环境湿度：≤90%

　　操作环境温度：15℃～30℃

测定方法

（1）探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。

（2）调整：确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。

（3）测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。抓住与

测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定，每次都

要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。

在线咨询

金属膜厚仪使用说明

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：