进口x射线膜厚仪
作为表面测试领域的全面的服务供应商，Fischer自1953年以来一直致力于开发无损材料分析、涂层厚度测量和材料测试的仪器。我们为不同的行业提供广泛的测量设备：从简单的手持式设备在移动中进行快速测试，到集成的自动测量系统。
在过去，X射线荧光分析(XRF)主要用于地质学。如今，它已成为工业和实验室的关键技术。这种方法非常通用：它可以检测从钠到铀的所有相关化学元素
XRF通常用于材料分析，即确定样品中给定物质的含量，如测量珠宝中的黄金含量或根据《有害物质限制》(RoHS)指令检测日常物品中的有害物质。此外，可以使用XRF测量镀层的厚度：它快速、环保且无损。
所以在电镀镀层测试中，XRF仪器得到了广泛的推广，所以现在电镀及表面处理行业里，用XRF仪器测量电镀层的厚度也是一种质量控制不K多得的帮手。
在无损无接触的涂层厚度测量和材料分析领域，FISCHERSCOPE X射线仪器是理想的选择。自1983年以来，我们的X射线仪器已成为几乎所有主要行业质量测试的一个组成部分。我们的仪器以其精确性、准确性和耐用性而闻名。同时，FISCHERSCOPE X射线的设计易于使用，并在测量的各个方面为您提供支持。 这使您可以专注于手头上的质量工作，而不是测量仪器上。
我们的X射线仪器配有的FischerWinFTM软件，旨在规范测量过程。这包括控制X射线、实现测量的可追溯性、生成个性化测量报告以及与内部网络交互。
我们种类齐全的X射线设计用于高可靠性地测量不同的应用。*电子、电镀、汽车、黄金和珠宝等领域的公司以及更多的公司都依赖于FISCHERSCOPE X射线仪器进行质量控制。现在就来看看我们的X光仪器并找出原因吧！
进口x射线膜厚仪优点:
1.德国设计：技术先进
2.一个软件实现镀层厚度测量和材料分析两个功能
3.扩展统计功能。例如，测量结果可以记录并转为SPC图表显示
4.图像识别：WinFTM可以自行查找预设的测量位置
5.基于基本参数分析的无标准片测量：在手边样本组成未知的情况下实现精确的测量结果
6.距离控制测量(DCM)：无需移动轴即可保持与不规则形状样品的正确测量距离。只需将摄像头聚焦到样品表面即可。剩下的由WinFTM软件完成。这要比移动轴快。此外，没有轴与样品碰撞的风险
7.测量质量：我们的仪器可以判断您的测量质量。错误地选择了错误的测量任务或测量了错误的样品？您的FISCHERSCOPE仪器会提醒您
8.任务程式：只需单击一下，几乎可以对WinFTM软件中执行的所有操作进行编程并执行。例如，一项任务可以自动测量多个合金样品。 X射线仪器将XY工作台移动到样品位置，加载每个合金特定的测量条件，最后根据您的需要生成测试报告
特点:
根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度
XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm
钨X射线管或钨微聚焦管(XULM)作为X射线源
采用经实践验证的短测量时间的比例接收器
准直器：固定或4个自动切换 初级过滤器：
固定或3个自动切换 固定样品台或手动XY载物台
用于光学观察测量点的摄像头
经认证的全面防护设计；
应用:
电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件(螺母和螺栓)的腐蚀防护
电镀液中金属含量的分析 装饰性涂层
Cr/Ni/Cu/ABS >电子行业连接器和触点上的镀层
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更新时间：2024-03-29
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