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产品型号：FISCHERSCOPEX射线XUL
更新时间：2022-03-04简要描述：台式镀层厚度测试仪FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分，但在质量控制方面也是*的帮手：坚固耐用，非常适合测量批量生产的零件（如螺母和螺栓）上的电镀层 。
FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分，但在质量控制方面也是*的帮手：坚固耐用，非常适合测量批量生产的零件（如螺母和螺栓）上的电镀层 。
XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中；或者，对于较小的物品（例如插头），仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑，但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。
如果您有多种不同的测量任务，FISCHERSCOPE X射线XULM拥有可互切换的过滤器和准直仪，因此您可以为所有应用创造合适的测量条件。 此外，XULM具有内置的微聚焦管，即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。
久经考验的比例计数管（PC）具有较大的感应面积，因此可实现较高的计数率。它非常适合于带有较小测量点上较厚镀层的测量。但是，由于它提供的能量分辨率较低且灵敏度有限，尤其是对于轻元素，因此仅部分适合于要求高的测量任务。
硅PIN二极管是一种中档的探测器。它具有比比例接收器更好的分辨率，但测量面积很小。它既可以用于材料分析，也可以用于镀层厚度测量。但是对于较小的测量点，需要相对较长的测量时间。
高质量的X射线荧光设备采用硅漂移探测器（SDD）。这种类型的检测器具有*的能量分辨率，这意味着它甚至可以检测样品中浓度非常低的元素的辐射。此外，此类设备可以确定纳米级别的镀层厚度，并可以轻易地分析复杂的多镀层结构。
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