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产品型号：FT110A
更新时间：2024-03-29简要描述：日立XRF测厚仪是基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
日立XRF测厚仪
XRF镀层测厚和材料分析仪，能为电镀及表面处理行业进行快速的质量控制和验证测试，可以在几秒内就可以获取准确的数据。镀层测厚仪强大功能使其成为实验室的理想选择：有着安排紧凑的工作流程，但精度、多功能性和效率是维持此工作流程正常运转的*要素。
一、产品介绍：
镀层测厚仪旨在应对超薄镀层的挑战，例如当今不断缩小的电子元器件的镀层。其提供快速、准确和可重复的结果，有校提高生产力，同时减少PCB、半导体和微型接口等元器件上镀层不合规所带来的成本浪费。FT160系列镀层测厚仪易于使用、可轻松集成质量保证/质量控制流程，在问题引发危机之前及时发出提醒。
FT160系列镀层测厚仪采用了新款高分辨率样品观察相机和改进的照明，样品的预览和测量点的选择变得更加清晰和简便。
二、特点：
1、高性能XRF镀层测厚仪，适用于超小部件上的超薄镀层分析；
2、使用多毛细管光学聚焦系统，光斑尺寸<50um；
3、数秒间测试纳米级镀层厚度；
4、简单易用的操作软件；
5、强大的数据处理能力
三、适用的厚度范围：
四、XRF结构：
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