镀层测厚仪

X荧光光谱仪被广泛应用于电镀及表面处理行业的产品质量的管控和来料分析中，但因为国内X荧光的仪器生产厂家起步普遍较晚，所以在技术水平上无法和进口仪器相比较，所以长期以来，尽管国产仪器的价格上有着很大的优惠，但是在电镀厂家里的使用率还是很少的，而且在多层及复杂镀层的检测、异形和阶梯件产品镀层的检测和微小镀点上镀层的检测，国产仪器的表现都很不好，所以尽管进口仪器的价格一下居高不下，但很多时候，电镀企业也不得不选用进口仪器来对产品的质量和成本进行控管。

在此基础上，我公司在专业的研发团队和国内外专家共同努力下，设计、研发了这一款于电镀及表面镀层厚度检测的仪器。

产品介绍：

产品名称：镀层测厚仪

产品型号：XTU

产品图片：

XTU是一款造型精密，各组件模块化设计的镀层测厚仪，采用了X射线下照式设计，仪器可以测量微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

仪器性能优势：

1、采用微聚焦技术，对微小产品镀点和带凹槽或是异形件产品镀层厚度的检测有很好的表现

2、使用公司*的EFP算法，对复杂镀层、多层同元素镀种的测量都可以轻松应对

3、高精密XY轴滑轨设计，可以快速、方便找到测试点

4、人性化操作软件，简单方便，支持一键检测功能

5、一机多用，不仅可以检测镀层厚度，还可以分析电镀液成分含量、ROHS有害物质检测、合金成分分析等

6、无损检测、快速方便，产品检测完成后，还可以入库使用

技术参数：

1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）

2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）

3. 厚度低检出限：0.005μm

4. 成分低检出限：1ppm

5. ZUI小测量直径0.05mm（ZUI小测量面积0.002mm²）

6. 对焦距离：0-30mm（相当于凹槽深30mm）

7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量：68KG

10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm

11. XY轴工作台大承重：5KG

 应用领域：

1、电镀行业                                                                 2、通讯行业

3、汽车行业                                                                 4、五金建材

5、航空航天                                                                 6、卫浴产品

7、精密电子元器件、线路板生产                                   8、首饰加工、手表厂家等                       

EFP算法应用：

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。