镀层厚度分析仪

镀层厚度分析仪也称作膜厚仪，测厚仪等，主要是用于检测电镀镀层的厚度。

根据仪器的测试方法，一般有五类仪器

1、磁性测厚仪

2、超声波测厚仪

3、电解测厚仪

4、涡流测厚仪

5、X射线测厚仪

其中电解测厚仪对待测样品有损伤，测试起来也比较麻烦，但是精度会相对高一些。相对前四种有的对待测样有损伤，有的测试精度不够高，X射线测厚仪的优势也是很明显的，不仅测试的精度高，对待测样品的要求更少，而且操作更简单，还可以无接触、无损检测。但相对于前几类仪器的价格，却是贵的。

X射线镀层厚度分析仪

特点：

• 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器（SDD），能高精度地测量较薄的镀层
• 极耐用的设计结构，能以极出色的长期稳定性用于连续测量
• 可编程XY平台和Z轴，用于自动化连续测量
• 拥有实时的视频显示和辅助激光点，使得样品定位变得快速而简便

应用：

镀层厚度测量

• 测量极薄镀层，如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层
• 测量汽车制造业中的硬质涂层
• 光伏产业中的镀层厚度测量

应用领域：

    线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

    手表、精密仪表制造行业

    镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析  

    钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

    汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

    卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

    电镀液的金属阳离子检测

    其他样品镀层测试

性能优势：

 下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

   微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

   精密微型滑轨：快速精准定位样品。

 EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

仪器规格：

  外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

  样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

  仪器重量 ：55kg

  供电电源 ：交流220±5V

  大功率 ：330W

  环境温度：15℃-30℃

  环境相对湿度：<70%