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高压配电箱铜镀银层厚度测量仪

  • 产品型号:Explorer5000T
  • 更新时间:2022-03-04

简要描述:高压配电箱铜镀银层厚度测量仪Explorer5000T是一款专业为高压配电箱触头等铜镀银层厚度检测的仪器,因为高压配电箱触头和传统的电镀行业的产品不同,配电箱属于比较大的产品,而且安装完成后,不方便拆开后检测,所以我公司设计了这一款便携式的测量仪。

产品详情

由于此前,运行于全国35~500kV各电网中的高压隔离开关普遍存在高压配电箱触头发热的问题,从而引起导电部分受损,使配电箱电气性能下降,经过排查后发现,是因为触头镀银层厚度不够引起的。经过实验发现,镀银层的厚度,直接影响了高压隔离开关触头的开靠性和使用寿命,因此,按照DL/T1424-2015 《电网金属技术监督规程》要求,国家电网对高压配电箱隔离开关触头镀银层的厚度,作了明确要求,即室内导电回路动接触部位镀银层厚度不宜小于8μm,室外导电回路动接触部位镀银厚度不宜小于20μm。

但作为对触头镀银厚度层测量的方法,传统方法一直是有损的,检测的精确度不高,检测也比较麻烦,且不适合对已安装使用的配电箱进行户外检测。我公司研发生产的一款X荧光光谱仪,专业应对隔离开关触头镀银层无损的、快速的检测。

高压配电箱铜镀银层厚度测量仪Explorer5000T是一款利用X荧光光谱仪的原理,可以无损、快速检测触头镀银层的厚度。

同时,仪器采购手持式的设计,可以方便户外使用,也可以测量已安装好的高压配电箱内触头的镀银层的厚度。

仪器优势:

1、操作简单、便捷         仪器重量轻、体积小,便于外出携带。

                                       270度可旋转高清屏,任何光线下都可清晰显示,并支持多点操控。

                                      样品不需制备,可直接对待测样表面进行测试,快捷、方便。

2、的性能                无损快速检测、数秒即可以报结果,性能可对比台式机。

                                      SDD半导体探测器,分辨率低可达125eV,镀层厚度检出限0.01um

                                     软件搭载FP法,可同时测试电镀层厚度和成分

3、更强劲的电力            仪器自带9000mAh电池,可连续工作12小时,并可选配超大容量的                                        27000mAh,续航工作时间可达三天,并配备车载充电器

                                      内置记忆电池,可不断电更换电池

4、更的配置             仪器配微型光管,Fast-SDD探测器,微型数字信号多道处理器及智                                         能分析模块等四大核心技术

                                       内置500万像素高清晰摄像头,随时观察样品的测试位置,加强测试精度

5、安全的防护                智能三色预警系统,LED三色长灯带设计,360度*显示。通电                                        开机时亮绿灯,测试时闪烁红灯,设备出现故障时,闪烁黄灯

                                       样品自动感应,无样品时,X射线光管不工作

                                       采用加厚防护测试壁,有效防止散射

                                       配送防护安全罩,防周边轻基体散射

                                       安全联动装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,时间关闭X射                                         线光管,保护操作人员安全

6、更智能的软件             高压配电箱铜镀银层厚度测量仪Explorer5000T配有专业的镀层厚                                           度分析软件,具有智能货高、灵敏度好、测试时间短、操作简易等

                                       全新的智能软件,一键智能操作,采用双模设计(用户模式和专家                                           模式)用户模式选择相应镀层曲线一键检测镀厚度

仪器参数:

分析方法:能量色散X荧光光谱分析法

测量元素范围:原子序数12到92(镁(mg)到铀(U))之间的元素均可测量

分析镀层厚度范围:0.01-50um(实际分析范围根据元素各类不同有区别)

分析时间:5-30秒

曲线类型:基本参数FP法和经验系数EC法

探测器:SDD半导体探测器

分辨率:125eV

准直器和滤光片:直径4.0mm和2.0mm准直器,6种滤光片组合自动切换

视频系统:500万像素高清晰摄像头

显示屏:全新5寸液晶显示触摸屏,分辨率是1080*720

内置系统:GPS、Wi-Fi、蓝牙

微电脑系统:工业定制专业系统CPU:1G系统内存,扩展存储大支持32G,酝酿4G,可存储海量数据

电源:可充电锂电池,标配9000mAh,可持续工作12小时,可选配27000mAh超大电池,并配有宽电压110V-220V通用适配器,可车载充电。

测厚检出限:低检出限可达0.01um

安全性:多重防护安全,不开机,不测试,测试时的辐射量也远远低于国际X射线仪器的安全标准,还可以自动识别有无在测样品,空测时自动关闭X光管功能,标配辐射屏蔽罩、加厚仪器合金测试壁。

操作环境温度:低于90%

操作环境温度:零下20度-50度

仪器重量:1.7KG

附件:三防保护箱,具有抗压、防水和减震作用。通用充电器及车载充电器,4G SD存储卡和读卡器,两块锂电池及充电器,PDA附件,辐射屏蔽罩,选配件,超大电池,座式测试支架,蓝牙打印机,粉碎机,手动压样机,多种目筛等

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